一、應(yīng)用場(chǎng)景

熱電材料目前在半導(dǎo)體制冷和溫差發(fā)電等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，本產(chǎn)品 CCM-3-Y 便攜式澤貝殼系數(shù)測(cè)量?jī)x可以用于一般熱電材料的 SEEBECK 系數(shù)常溫測(cè)量，和半導(dǎo)體制冷片的 ZT 值和電阻值測(cè)量，是熱電材料和器件研究生產(chǎn)的重要工具。

樣品塞貝克系數(shù)

平均優(yōu)值系數(shù) Z（1/K）

電阻值測(cè)量

物理教學(xué)實(shí)驗(yàn)

熱電材料初步篩選

二、功能和原理介紹

2.1 SEEBECK 系數(shù)測(cè)試功能（端口 A）

SEEBECK 系數(shù)雙端探筆，集成了冷探針和熱探針。其中熱探針包含銅探針、熱電偶和加熱圈；

測(cè)試過(guò)程中給 Seebeck 熱探針加熱，使熱探針和冷探針之間始終保持一個(gè)固定的溫差 T，同時(shí)記錄冷熱探針之間的熱電勢(shì) V，根據(jù)公式即可計(jì)算出材料的 Seebeck 系數(shù)值；

                     圖 2-1 SEEBECK 測(cè)試原理圖

    圖 2-2 塞貝克測(cè)試探筆尺寸圖

2.2 電阻測(cè)量功能（端口 B）

該功能通過(guò)四線法測(cè)量樣品電阻值，避免了探針和樣品接觸電阻的影響；

并且在測(cè)試時(shí)可以選擇不同的測(cè)量模式；

自動(dòng)模式：測(cè)試軟件自動(dòng)選擇測(cè)試電流，最終測(cè)試結(jié)果為多組電流和電壓值數(shù)據(jù)擬合結(jié)果；

手動(dòng)模式：采用設(shè)定電流值測(cè)試樣品電阻值；特別針對(duì)樣品的 IV 曲線測(cè)試功能；測(cè)試

過(guò)程中電流自動(dòng)切換方向，以減少測(cè)試誤差。

同時(shí)該界面具備恒流源輸出和微弱信號(hào)采集功能；具體使用方法請(qǐng)參照 4.2 節(jié)。

2.3 半導(dǎo)體制冷片參數(shù)測(cè)量（端口 B）

哈曼法測(cè)試原理：給樣品通一個(gè)恒定的電流值，根據(jù)帕爾帖效應(yīng)熱電材料會(huì)在兩端吸熱

和放熱，并產(chǎn)生一個(gè)溫差電壓 Vs。當(dāng)溫差和熱傳導(dǎo)達(dá)到平衡時(shí)記錄此時(shí)的電壓 Vo，Vo 包含器件電阻的電壓 Vr 和 Vs。接著切斷電流，Vr 同時(shí)消失，而 Vs 逐漸減小。記錄此時(shí)刻前后電壓變化曲線，使用數(shù)據(jù)分析方法找到 Vr。Vs/Vr 則代表器件的 ZT 值。

                           圖 3-1 哈曼法測(cè)試原理

三、CCM-3-Y 便攜式澤貝殼系數(shù)測(cè)量?jī)x參數(shù)表